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非接触光学测厚仪是一款基于光谱共焦成像技术的测量设备，专为微米级精密检测需求设计。该设备通过宽光谱LED光源发射复色光，经色散透镜聚焦形成连续波长焦点，精准捕捉物体表面反射的共焦波长信号，结合高速光谱分析算法，实现单点最高10kHz的采样频率与0.1μm的超高分辨率。设备设备采用天然花岗岩平台和隐藏式倒放探头，提供稳定的测量基准以及减少放样障碍，支持透明/非透明材料单层或多层厚度（如涂层+基材
更新时间：2025-07-31
产品型号：SR-CHY-01
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接触角测量仪
